ETUDE DES EFFETS EXTERIEUR SUR UNE PHOTODIODE

dc.contributor.authorKHEMISSI, ASSAM
dc.contributor.authorBOUKHADEM, ABLA
dc.contributor.authorEnca/ TABBAKH, Mostefa
dc.date.accessioned2021-09-05T09:04:14Z
dc.date.available2021-09-05T09:04:14Z
dc.date.issued2021
dc.description.abstractDans notre étude, nous intéressons aux photodiodes à base de silicium, principalement les photodiodes PIN. Ce travail est une simulation basée sur le logiciel SILVACO Atlas pour obtenir les caractéristiques électriques et optiques de la photodiode homo-jonction à savoir la caractéristique courant-tension (I-V) et la sensibilité spectrale (S()). Nous avons simulé les effets de quelques paramètres sur les caractéristiques de la photodiode PIN. Nous avons pris en considération les paramètres les plus influents de point de vue performance d’une photodiode. En effet, nous avons simulé l’effet de l’épaisseur de la région intrinsèque, du dopage de la région intrinsèque et de la température. Nous avons également simulé l’effet de la surface de la photodiode et du rayonnement incident sur la photodiodeen_US
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-msila.dz:8080//xmlui/handle/123456789/25287
dc.language.isofren_US
dc.publisheruniv msilaen_US
dc.subjectPhotodiode PIN, Silicium, Simulation, SILVACO-Atlas, Courant tension, Sensibilité spectraleen_US
dc.titleETUDE DES EFFETS EXTERIEUR SUR UNE PHOTODIODEen_US
dc.typeThesisen_US

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