Les diagrammes de diffraction des rayons X par les cristaux sous forme de poudre ont
été indexés en utilisant trois logiciels TREOR, DICVOL et ITO. Les résultats de l'indexation,
obtenus pour les trois logiciels, sont combinés pour extraire les paramètres de maille. La
maille déterminée et la totalité des données de diagramme passent par CHEKCELL, ce
dernier nous a proposé un seul groupe spatial. Nous avons fait un affinement global du profil
par contrainte de maille en utilisant le logiciel FULLPROF, les faibles valeurs des facteurs de
qualités montrent la fiabilité de nos résultats.